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半导体测试联盟发布开放式测试架构
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摘要：
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基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台设计
嵌入式结构
半导体芯片
信息测试
工具集模块
开放式网络化自动测试系统体系结构研究
网络化
自动测试系统
体系结构
模型
基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
基于信息的开放式自动测试系统技术结构分析
自动测试系统(ATS)
技术结构
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期刊影响力
电子产品世界
主办单位：
中国科学技术信息研究所(ISTIC)
美国国际数据集团(IDG)
出版周期：
月刊
ISSN：
1005-5517
CN：
11-3374/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市复兴路15号138室
邮发代号：
82-552
创刊时间：
1993
语种：
chi
出版文献量（篇）
11765
总下载数（次）
14
总被引数（次）
19602
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