混合信号总线测试实验

• 作者: 李正光 雷加
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号电路 测试总线 测试实验 KLIC
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TP206.1

摘要

使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的，同时指出其局限性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷加		3	0	0.0	0.0
2	李正光		4	15	1.0	3.0