基于边界扫描技术的TAP接口研究

• 作者: 叶富乐 杜呈透 王让定
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 边界扫描 JTAG规范 TAP接口
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 139-141
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 2311字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2003.03.055

摘要

边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法.该文在研究边界扫描体系结构和TAP接口控制器的基础上,在一个测试系统中,实现了基于JTAG规范的主TAP接口设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王让定	宁波大学信息科学与工程学院	143	1262	17.0	29.0
2	杜呈透	宁波大学信息科学与工程学院	12	65	5.0	8.0
3	叶富乐	宁波大学信息科学与工程学院	5	48	3.0	5.0