基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计

• 作者: 谈恩民 陆颖莹
• 来源期刊: 桂林电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: TCL脚本 存储器测试 边界扫描测试
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 320-324
• 分类号: TP23
• 字数: 4867字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2012.04.015

摘要

为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案.结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子.通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	陆颖莹	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0