一种新的低功耗BIST测试生成器设计

• 作者: 陈卫兵
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 低功耗设计 BIST 测试生成器 LFSR
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: IC工程
• 页码范围: 62-63
• 页数: 2页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.11.025

摘要

文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的BIST测试生成器设计方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑电路,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单输入跳变的测试向量集,使得待测电路的平均功耗大大降低.由于该设计方案比其它LPTPG方案的面积开销小,从而具有更好的使用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈卫兵	阜阳师范学院物理系	36	101	7.0	8.0