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摘要:
研究了在硅材料上利用MEMS (Micro-Electro-Mechanical System)的各向异性腐蚀技术制备闪耀光栅.采用氧化削尖工艺去除光栅制备过程中掩膜在闪耀面上留下的平台,得到一个连续的闪耀面;同时对闪耀面进行表面抛光,改善闪耀面的粗糙度,减小对入射光的散射.理论分析和实验测试证明,该工艺方法能够将MEMS闪耀光栅的衍射效率提高10%左右.
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文献信息
篇名 改善MEMS闪耀光栅衍射效率的研究
来源期刊 光电工程 学科 物理学
关键词 闪耀光栅 各向异性腐蚀 表面抛光 氧化削尖
年,卷(期) 2004,(5) 所属期刊栏目 光通信
研究方向 页码范围 24-27,37
页数 5页 分类号 O436.1
字数 3409字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-501X.2004.05.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李四华 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 8 64 5.0 8.0
2 吴亚明 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 35 193 9.0 11.0
3 韩晓峰 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 2 17 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
闪耀光栅
各向异性腐蚀
表面抛光
氧化削尖
研究起点
研究来源
研究分支
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期刊影响力
光电工程
月刊
1003-501X
51-1346/O4
大16开
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1974
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