弹药类产品中电子元器件的失效分析

• 作者: 仲伟君 李德胜 赵晓利
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 弹药失效 电子元器件 失效
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: TN306

摘要

为了提高战斗性能，弹药中采用越来越多的电子元器件。由于弹药储运管理环境的特殊性，其中电子元器件的失效模式也与一般装备(设备)有很大不同。首先分析了弹药中电子元器件的种类、全寿命过程中的主要应力及影响，然后结合实际试验，分析其失效模式及对全弹性能的影响。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵晓利	军械工程学院弹药工程系	45	134	6.0	9.0
2	仲伟君	军械工程学院弹药工程系	24	70	5.0	7.0
3	李德胜	军械工程学院弹药工程系	5	5	1.0	2.0