阶越反向恢复法测量PIN二极管少子寿命

• 作者: 崔国庆 王建华 黄庆安
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 少子寿命 PIN二极管 连续性方程
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 585-588
• 页数: 4页
• 分类号: TN31
• 字数: 2669字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.04.012

摘要

少子寿命是PIN二极管的重要参数,对二极管的正向压降和开关时间有很大的影响.阶越反向恢复法是常用的测试少子寿命方法之一.本文通过分析电荷控制方程得到了更精确的表达式,并用这种方法计算了储存电荷法的公式.表达式用MEDICI器件模拟软件进行了验证.结果表明与目前常用的方法相比,本文的方法具有更好的精确性,而且简单易行,适合实际应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建华	合肥工业大学理学院	12	110	6.0	10.0