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同步及存储核心--混合信号测试新结构(上)
同步及存储核心--混合信号测试新结构(上)
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摘要：
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SoC中混合信号的测试
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期刊影响力
电子技术
主办单位：
上海市电子学会
上海市通信学会
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-0755
CN：
31-1323/TN
开本：
大16开
出版地：
上海市长宁区泉口路274号
邮发代号：
4-141
创刊时间：
1963
语种：
chi
出版文献量（篇）
5480
总下载数（次）
19
总被引数（次）
22245
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