银基触头材料电弧侵蚀特性及裂纹形成机理分析

• 作者: Leuschner F.W 王国强 董讷 郭凤仪
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电工材料 银基触头材料 电弧侵蚀 特性 裂纹 机理
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 电机电工
• 页码范围: 209-217
• 页数: 9页
• 分类号: TM21
• 字数: 1988字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2004.09.037

摘要

利用数字显示时间继电器、交流接触器、断路器以及电阻性负载设计了一个简易的触头材料实验电路.用该实验电路对五种银基触头材料AgCdO(12),Ag(Sn,In)O,AgZnO(10),AgNi(10),AgC(5)根据不同的开断电流、开断次数、闭合压力和配对方式进行了电弧侵蚀实验.根据实验结果得到了一些有实际意义的电弧侵蚀特性曲线.然后根据不同的开断电流及闭合压力对裂纹形貌进行了分析研究.最后,基于数学分析给出了用于判定出现滑移裂纹和热应力裂纹的理论判据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭凤仪	辽宁工程技术大学电气工程系	134	1148	18.0	27.0
2	王国强	辽宁工程技术大学电气工程系	3	36	1.0	3.0
3	董讷	辽宁工程技术大学电气工程系	8	75	3.0	8.0
4	Leuschner F.W	比勒陀利亚大学电气电子与计算机工程系	1	35	1.0	1.0