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摘要:
对CSP芯片热可靠性进行了研究.运用数值分析方法,采用有限元软件ANSYS8.0,模拟分析在循环热载荷条件下芯片的热应力,以及芯片可能的失效形式.
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文献信息
篇名 CSP芯片热应力分析
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 芯片尺寸封装(CSP) 芯片 有限元 应力
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目 专题报道
研究方向 页码范围 32-34,42
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 1295字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2005.04.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢劲松 电子科技大学机械电子工程学院 4 27 3.0 4.0
2 钟家骐 电子科技大学机械电子工程学院 13 77 6.0 8.0
3 李川 电子科技大学机械电子工程学院 15 73 6.0 8.0
4 敬兴久 电子科技大学机械电子工程学院 3 17 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
芯片尺寸封装(CSP)
芯片
有限元
应力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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10002
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