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CSP芯片热应力分析
CSP芯片热应力分析
作者:
敬兴久
李川
谢劲松
钟家骐
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
芯片尺寸封装(CSP)
芯片
有限元
应力
摘要:
对CSP芯片热可靠性进行了研究.运用数值分析方法,采用有限元软件ANSYS8.0,模拟分析在循环热载荷条件下芯片的热应力,以及芯片可能的失效形式.
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
CSP芯片热应力分析
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
芯片尺寸封装(CSP)
芯片
有限元
应力
年,卷(期)
2005,(4)
所属期刊栏目
专题报道
研究方向
页码范围
32-34,42
页数
4页
分类号
TN305.94
字数
1295字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1004-4507.2005.04.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
谢劲松
电子科技大学机械电子工程学院
4
27
3.0
4.0
2
钟家骐
电子科技大学机械电子工程学院
13
77
6.0
8.0
3
李川
电子科技大学机械电子工程学院
15
73
6.0
8.0
4
敬兴久
电子科技大学机械电子工程学院
3
17
2.0
3.0
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引证文献(0)
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引证文献(2)
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二级引证文献(0)
2014(3)
引证文献(2)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
芯片尺寸封装(CSP)
芯片
有限元
应力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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