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摘要:
本文利用激光分子束外延(LMBE)技术在SrTiO3(100)单晶基片上外延生长MgO薄膜,同时又在MgO(100)单晶基片上外延生长SiTiO3(STO)薄膜.通过反射高能电子衍射(RHEED)仪原位实时监测薄膜生长,研究薄膜的生长过程.并结合X射线衍射(XRD)仪来分析在不同的生长条件下,不同应力对薄膜外延生长的影响.在压应力情况下,MgO薄膜在STO基片上以单个晶胞叠层的方式生长,即以"Cubic on Cubic"方式进行外延;在张应力情况下,由于膜内位错较多,STO薄膜在MgO基片上以晶胞镶嵌的方式进行生长,即以"Mosaic"结构进行外延;提高生长温度,可以减少膜内位错,提高外延质量,使STO薄膜在MgO基片上以较好的层状方式外延生长.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 异质外延MgO/SrTiO3薄膜中界面应力研究
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 物理学
关键词 MgO/SrTiO3 薄膜 异质外延 应力 反射高能电子衍射 X射线衍射
年,卷(期) 2005,(1) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 10-13
页数 4页 分类号 O484.1|O484.5
字数 1639字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.2005.01.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张鹰 电子科技大学微电子与固体电子学院 47 169 7.0 9.0
2 李金隆 电子科技大学微电子与固体电子学院 12 66 5.0 7.0
3 姬洪 电子科技大学微电子与固体电子学院 20 67 4.0 7.0
4 蒋书文 电子科技大学微电子与固体电子学院 30 197 7.0 12.0
5 陈寅 电子科技大学微电子与固体电子学院 3 10 3.0 3.0
6 郑亮 电子科技大学微电子与固体电子学院 1 3 1.0 1.0
7 艾万勇 电子科技大学微电子与固体电子学院 2 8 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
MgO/SrTiO3
薄膜
异质外延
应力
反射高能电子衍射
X射线衍射
研究起点
研究来源
研究分支
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真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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19905
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