Hg1-xCdxTe长波光伏探测器的低频噪声研究

• 作者: 孙涛 李言谨 梁晋穗 胡晓宁 陈兴国
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: HgCdTe 光伏探测器 钝化 倒易点阵 暗电流
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 273-276
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.2
• 字数: 2552字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2005.04.008

摘要

在同一Hg1-xCdxTe晶片上(x=0.217)制备了单层ZnS钝化和双层(CdTe+ZnS)钝化的两种器件,对器件的低频噪声和暗电流进行了测试.发现单层钝化的器件在反偏较高时具有较高的低频噪声,在对器件的暗电流拟合计算中发现,单层钝化的器件具有较大的表面隧道电流,而这正是单层钝化器件具有较高低频噪声的原因.并通过高分辨X射线衍射中的倒易点阵技术RSM(reciprocal space mapping)研究了两种钝化对HgCdTe外延层晶格完整性的影响,发现单层ZnS钝化的HgCdTe外延层产生了大量缺陷,而这些缺陷正是单层钝化器件具有较高的低频噪声和表面隧道电流的原因.