基于小波分析的CMOS电路IDDT故障诊断新技术

• 作者: 焦慧芳 王群勇 贾新章
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 故障诊断 瞬态电流IDDT 小波分析 故障特征参数
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN432
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.01.005

摘要

对CMOS数字集成电路故障诊断技术的基本方法进行介绍,探讨了基于小波分析的CMOS电路瞬态电流IDDT故障诊断新技术的基本原理和作用.介绍了该故障诊断新技术的国内外研究动态,展望了其在超大规模集成电路的故障诊断、失效机理研究、可靠性提高等方面的作用、意义及其广阔的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子研究所	63	572	14.0	20.0
2	焦慧芳	西安电子科技大学微电子研究所	15	73	5.0	8.0
6	王群勇		6	37	3.0	6.0