一种基于嵌入式IP内核模块的测试方法

• 作者: 须文波 黄俊
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 系统级芯片 知识产权(IP) 内核测试标准
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 封装与测试
• 页码范围: 54-56,66
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 3079字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2005.06.013

摘要

嵌入式内核结构的测试正面临着新的挑战,需要提出有效的测试方法.针对IP内核模块测试所面临的技术难点,详细介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和完整的测试方法,并分析了由测试理论和方法而形成的国际公认标准IEEE P1500.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	须文波	江南大学信息工程学院	409	3078	23.0	34.0
2	黄俊	江南大学信息工程学院	7	62	4.0	7.0