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影响真空中绝缘体沿面闪络特性因素研究综述
影响真空中绝缘体沿面闪络特性因素研究综述
作者:
严萍
孙广生
邵涛
高巍
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
真空闪络
预放电
高梯度
摘要:
系统总结了目前高压真空绝缘闪络特性的实验研究成果,具体阐述了几种重要物理因素,即施加电场波形、绝缘体几何形状及长度、绝缘体几何面积、绝缘体表面处理、绝缘材料介电常数、绝缘体预放电处理、磁场作用、电极材料及几何形状、多层高梯度绝缘技术等,对绝缘闪络特性的影响.
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绝缘材料
沿面闪络
发展特性
传播途径
影响因素
内容分析
文献信息
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相关学者/机构
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期刊文献
内容分析
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相关文献总数
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(/年)
文献信息
篇名
影响真空中绝缘体沿面闪络特性因素研究综述
来源期刊
高压电器
学科
工学
关键词
真空闪络
预放电
高梯度
年,卷(期)
2005,(6)
所属期刊栏目
综述
研究方向
页码范围
456-460,465
页数
6页
分类号
TM85
字数
5856字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-1609.2005.06.017
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
严萍
中国科学院电工研究所
191
2402
27.0
36.0
2
孙广生
中国科学院电工研究所
50
692
16.0
24.0
3
邵涛
中国科学院电工研究所
68
811
17.0
26.0
7
高巍
中国科学院电工研究所
15
111
8.0
10.0
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节点文献
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二级引证文献
(37)
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参考文献(1)
二级参考文献(0)
1972(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1980(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
1983(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1984(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1985(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
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1989(2)
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1991(1)
参考文献(1)
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1993(1)
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参考文献(2)
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2000(1)
参考文献(1)
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参考文献(1)
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2005(1)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2005(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2008(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2009(2)
引证文献(2)
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2020(3)
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节点文献
真空闪络
预放电
高梯度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
高压电器
主办单位:
西安高压电器研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-1609
CN:
61-1127/TM
开本:
大16开
出版地:
西安市西二环北段18号
邮发代号:
52-36
创刊时间:
1958
语种:
chi
出版文献量(篇)
5932
总下载数(次)
16
总被引数(次)
58601
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