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基于IC质量等级提高电子元器件可靠性的方法
基于IC质量等级提高电子元器件可靠性的方法
作者:
杨冬
高志远
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子元器件
可靠性
质量管理
设计审查
航空航天工业
摘要:
随着科技的发展,电子元器件在航空航天领域的应用越来越广泛。近期,特别是当前国家重点型号的研制过程中,大量使用新型、新研电子元器件,已经成为装备的一个组成部分,电子元器件的质量已经与装备的安危密切相关并引起了各方人士的重视。一个电气系统就是由各种基础产品(各种元器件)构成的。由于电子元器件的数量、品种众多,其性能、可靠性、
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可靠性
温度特性
热优化设计
电子元器件可靠性增长的分析技术
元器件
可靠性增长
分析技术
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
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期刊文献
内容分析
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文献信息
篇名
基于IC质量等级提高电子元器件可靠性的方法
来源期刊
国防技术基础
学科
航空航天
关键词
电子元器件
可靠性
质量管理
设计审查
航空航天工业
年,卷(期)
2005,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
34-37
页数
4页
分类号
V443
字数
语种
DOI
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传播情况
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2005(0)
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研究主题发展历程
节点文献
电子元器件
可靠性
质量管理
设计审查
航空航天工业
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国防技术基础
主办单位:
中国兵器工业标准化研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
开本:
大16开
出版地:
北京市海淀区车道沟10号
邮发代号:
创刊时间:
2001
语种:
chi
出版文献量(篇)
2862
总下载数(次)
7
总被引数(次)
4770
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