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失效分析思路及程序
失效分析
思路
程序
应力诱发的电迁移失效分析
热电迁移
电化学迁移
失效机理
电阻
铝金属化
集成电路
互连
从失效案例分析轴承的早期失效
轴承
早期失效
影响因素
预防措施
软件失效原因分析
软件可靠性
软件失效
原因分析
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 失效分析思路
来源期刊 理化检验-物理分册 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 专题讲座
研究方向 页码范围 158-161
页数 4页 分类号 TB303
字数 5292字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-4012.2005.03.018
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1 张峥 北京航空航天大学材料学院 114 1510 22.0 35.0
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期刊影响力
理化检验-物理分册
月刊
1001-4012
31-1338/TB
大16开
上海市邯郸路99号
4-183
1963
chi
出版文献量(篇)
4196
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10
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