电压检测芯片失效分析

• 作者: 侯旎璐 李进 袁保玉
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 智能电表 电压检测芯片 失效分析 外观检查 电参数测试
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 49-56
• 页数: 8页
• 分类号: TB114.39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.04.009

摘要

近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注.但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象.因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、 电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李进		4	3	1.0	1.0
5	袁保玉		3	5	2.0	2.0
9	侯旎璐		2	28	2.0	2.0