基于折叠集的混合模式BIST的低功耗设计

• 作者: 陈卫兵
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 低功耗设计 折叠集 测试生成器 伪单输入跳变
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TP302
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.03.004

摘要

文章提出了一种基于折叠集的混合模式BIST低功耗设计方案,该设计方案通过对混合模式BIST的优化设计,得到伪单输入跳变的测试向量集,从而达到降低待测电路功耗的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈卫兵	合肥工业大学计算机与信息学院	36	101	7.0	8.0