裂解氧化-离子色谱法测定高分子抗静电剂中的硫含量

• 作者: 吴平 申书昌
• 来源期刊: 高师理科学刊
• 学科: 化学
• 关键词: 高分子抗静电剂 裂解氧化 离子色谱 硫含量
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: O657.7
• 字数: 2454字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9831.2006.02.014

摘要

采用高温裂解、碱吸收、氧化法将高分子抗静电剂中的硫(S2-)转化为为硫酸根(SO42-),利用离子色谱法测定了SO42-的量,从而得到抗静电剂中硫元素的含量.方法高效、灵敏、选择性好.硫检出限为0.28mg/L;相对标准偏差为1.1%～2.4%;回收率98.9%～100.7%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	申书昌	齐齐哈尔大学化学与化学工程学院	114	338	9.0	12.0
2	吴平	齐齐哈尔大学化学与化学工程学院	21	132	5.0	11.0