一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构

• 作者: 于宗光 唐玉兰 陶伟
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 模/数转换器 内建自测试 数模混合电路
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 231-234
• 页数: 4页
• 分类号: TN79.2
• 字数: 2330字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.01.065

摘要

由于超大规模集成电路技术的快速进步,测试数模混合电路变得越来越困难.针对DAC的测试问题,采用了一种内建自测试(BIST)的测试结构,用模拟加法器把电压测量转换成时间测量的方法,分析并给出了如何利用该结构计算DAC的静态参数.利用该方法,既可以快速得到DAC的静态参数,又提高了测试精度,使得测试电路简单、紧凑和有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐玉兰	江南大学信息工程学院	9	27	3.0	5.0
2	于宗光	江南大学信息工程学院	89	354	9.0	14.0
6	陶伟	江南大学信息工程学院	2	13	2.0	2.0