ATE测试成本优化

• 作者: 王琛
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 可测性设计 自动测试设备 测试成本
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 2147字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2006.11.005

摘要

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多.多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等.文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琛	南京工业大学信息科学与工程学院	3	7	1.0	2.0