用位错胞及正电子湮没寿命为参量的损伤演变律

• 作者: 张朝新 李光霞 李建兵 李建华 李长春
• 来源期刊: 华中科技大学学报（城市科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 疲劳 损伤 微观 电子湮没寿命 位错胞 激光辐照
• 年，卷（期）: 2006,（z2）
• 页码范围: 71-73
• 页数: 3页
• 分类号: O346.2|O346.5|TG111.8
• 字数: 2542字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-0985.2006.z2.024

摘要

利用正电子湮没技术,以正电子湮没平均寿命为损伤参量,描述裂纹萌生阶段材料的劣化过程.由于正电子对原子尺度的缺陷(如空位、空位团、位错及微空洞等)十分敏感,因此,用来获得金属材料(包括脆性材料和非金属材料)的微结构和缺陷在低应力水平下弹性损伤的变化信息成为可能,进而可建立弹性损伤的演变方程,这就有可能解决宏观测试手段难以得到低应力水平下弹性损伤变化量的这一难题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建兵	华中科技大学土木工程与学院	7	40	3.0	6.0
2	张朝新	华中科技大学土木工程与学院	1	1	1.0	1.0
3	李长春	华中科技大学土木工程与学院	2	1	1.0	1.0
4	李光霞	华中科技大学土木工程与学院	1	1	1.0	1.0