稳态热阻对大功率晶体管寿命试验的影响

• 作者: 刘砚君
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 热阻 稳态热阻 平均稳态热阻 峰值稳态热阻
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 分类号: TN7
• 字数: 2993字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2006.08.009

摘要

在进行相关分立器件分析时发现,稳态热阻对功率器件寿命试验结果影响较大.通过相关案例分析,提出稳态热阻的变化量应作为功率器件寿命试验合格判据之一的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘砚君		4	5	1.0	2.0