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摘要:
减反射膜层折射率和厚度的精密监控是超辐射发光管的关键技术.分析了超辐射发光管端面减反射膜的四种膜系,提出了监控薄膜厚度的挡板调制、高级次过正极值法.采用该法制备超低剩余反射膜的实验表明:单面镀膜后,砷化镓基片的剩余反射率达到0.04%;管芯的反馈谐振被抑制,出现超辐射现象,峰值波长从1610nm移动到1560nm,蓝移约60nm,光谱纹波小于0.3dB.
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文献信息
篇名 1.55μm超辐射发光管端面减反射膜的研究
来源期刊 光学仪器 学科 物理学
关键词 减反射膜 挡板调制法 超辐射发光管
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 薄膜制备与特性测试
研究方向 页码范围 159-163
页数 5页 分类号 O484.1
字数 2533字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5630.2006.04.033
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘德明 华中科技大学光电子工程系 236 1645 17.0 27.0
2 聂明局 华中科技大学光电子工程系 8 16 3.0 4.0
3 胡必春 华中科技大学光电子工程系 11 61 5.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
减反射膜
挡板调制法
超辐射发光管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学仪器
双月刊
1005-5630
31-1504/TH
大16开
上海市军工路516号381信箱
1979
chi
出版文献量(篇)
2397
总下载数(次)
9
总被引数(次)
11659
论文1v1指导