基于神经网络的数字电路多故障测试生成算法

• 作者: 吴丽华 王轸 赵莹
• 来源期刊: 电机与控制学报
• 学科: 工学
• 关键词: 神经网络 遗传算法 约束网络 能量函数
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 页码范围: 478-481
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2450字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-449X.2006.05.009

摘要

针对数字电路中多故障测试生成效率较低的问题,提出了基于神经网络的数字电路多故障测试生成算法.依据故障转换方法把数字电路多故障测试生成问题转换成为单故障测试生成问题,采用神经网络的方法对单故障电路构造故障的约束网络,通过使用遗传算法求解故障约束网络能量函数的最小值点获得故障的测试矢量.在ISCAS'85国际标准电路上的实验结果表明,故障平均测试生成时间在0.017s以下,故障覆盖率在96%以上.与其他算法相比,测试生成效率明显提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴丽华	哈尔滨理工大学测控与通信工程学院	26	172	7.0	12.0
2	赵莹	北华大学电气信息工程学院	29	29	2.0	3.0
3	王轸	哈尔滨理工大学测控与通信工程学院	4	10	2.0	3.0