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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于加速退化数据的BS分布的统计推断
基于加速退化数据的BS分布的统计推断
作者:
周经伦
孙权
彭宝华
赵建印
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
BS分布
加速试验
退化失效
摘要:
BS分布是可靠性分析中的一个重要的失效分布模型,它可以用于很多产品的退化失效分析中.对基于加速退化试验数据的BS分布的统计推断方法进行了研究,给出了BS模型的加速退化方程及其适用性.
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文献信息
篇名
基于加速退化数据的BS分布的统计推断
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
BS分布
加速试验
退化失效
年,卷(期)
2006,(1)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性理论研究
研究方向
页码范围
11-14
页数
4页
分类号
TB114.3
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2006.01.004
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
周经伦
国防科学技术大学信息系统与管理学院
61
817
16.0
25.0
2
彭宝华
国防科学技术大学信息系统与管理学院
10
229
7.0
10.0
3
孙权
国防科学技术大学信息系统与管理学院
28
438
13.0
20.0
4
赵建印
国防科学技术大学信息系统与管理学院
11
242
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2020(4)
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节点文献
BS分布
加速试验
退化失效
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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