原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
BS分布是可靠性分析中的一个重要的失效分布模型,它可以用于很多产品的退化失效分析中.对基于加速退化试验数据的BS分布的统计推断方法进行了研究,给出了BS模型的加速退化方程及其适用性.
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文献信息
篇名 基于加速退化数据的BS分布的统计推断
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 BS分布 加速试验 退化失效
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 可靠性与环境适应性理论研究
研究方向 页码范围 11-14
页数 4页 分类号 TB114.3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.01.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周经伦 国防科学技术大学信息系统与管理学院 61 817 16.0 25.0
2 彭宝华 国防科学技术大学信息系统与管理学院 10 229 7.0 10.0
3 孙权 国防科学技术大学信息系统与管理学院 28 438 13.0 20.0
4 赵建印 国防科学技术大学信息系统与管理学院 11 242 8.0 11.0
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研究主题发展历程
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BS分布
加速试验
退化失效
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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9369
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