IC失效分析方法的研究

• 作者: 张国强 梁惠来
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 失效分析 无损探伤 热点捕捉
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 在线测试与故障诊断
• 页码范围: 168-169
• 页数: 2页
• 分类号: TN4
• 字数: 2353字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2006.04.076

摘要

与传统的分析方法相比较,文中设计优化了失效分析方案.采用先进的Light emission、SAM等技术,提高了集成电路失效分析的成功率和准确度.对IC的设计、研究和生产有积极的指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁惠来		37	130	7.0	9.0
2	张国强		6	26	3.0	5.0