由上下电极覆盖的铁电薄膜中最小180度电畴尺寸

• 作者: 刘玉岚 王彪 陈永秋
• 来源期刊: 应用数学和力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 铁电膜 180度铁电畴 稳定分析 反向反转
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 页码范围: 899-903
• 页数: 5页
• 分类号: O322
• 字数: 2474字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0887.2006.08.003

摘要

在较低的电压下,铁电畴发生反转的性能对于研发高密度铁电存储器是至关重要的.为了实现高密度存储,铁电畴必须做得愈小愈好.然而,当外加电场撤去后,很小的铁电畴是不稳定的,会发生缩小,直致消失,导致存储的信息消失.为解决此问题,发展了一种通用的方法用于决定避免反向反转的铁电畴的尺寸.做为一个例子,确定了由上下电极覆盖的铁电薄膜中最小180度电畴尺寸.该研究可以用于许多相似的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王彪	中山大学理工学院	39	196	8.0	13.0
2	刘玉岚	中山大学理工学院	10	52	3.0	7.0
3	陈永秋	哈尔滨理工大学机械动力工程学院	11	44	3.0	6.0