光学元件损伤暗场成像检测的算法

• 作者: 张际 李大海
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光学器件 模式识别 聚类 暗场成像 在线检测
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 1109-1112
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2343字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.08.023

摘要

基于强激光系统光学元件损伤的在线暗场成像检测,提出了一种无损、自动、快速检测的新算法.该算法根据模式识别中的聚类理论,对光学元件损伤的暗场图像实现了损伤斑块位置的自动检测分析.同时,根据损伤的暗场图像特点,用双向扫描方式得到了无遗漏点的损伤连续斑块,实现了损伤斑块尺度的自动检测.理论分析和实验均显示,损伤暗场自动检测图像的快速聚类算法能实现光学元件损伤位置和损伤尺度的准确、自动分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李大海	四川大学电子信息学院光电研究所	70	689	14.0	24.0
2	张际	四川大学电子信息学院光电研究所	1	33	1.0	1.0