测试基准电路ITC'02剖析及其应用现状

• 作者: 张艳红 陈朝阳
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: ITC'02 基准 模块 层次 Soc TAM
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 850-852
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.07.004

摘要

文章首先对测试基准电路ITC'02的产生背景进行了介绍,然后就文件书写格式、系统芯片命名规则、应用范围以及测试问题的分类等进行了比较详细的介绍和剖析,分析了该基准的统计特性,并对其应用现状做了比较详细的考察;为集成电路可测性设计相关研究与开发人员提供了一个新的测试基准参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈朝阳	华中科技大学图像所集成电路设计中心	43	354	11.0	16.0
2	张艳红	华中科技大学图像所集成电路设计中心	9	25	3.0	4.0