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摘要:
现今光学元件抗激光损伤能力低已经成为抑制激光器提高能量密度的重要阻碍,基于强激光技术在此方面的进展与当前固体激光系统的要求,开展了亚表面缺陷形态探测技术研究。
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特征信息
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荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷
荧光成像技术
亚表面缺陷
激光损伤
熔石英
KDP晶体
光学元件亚表面缺陷结构的蚀刻消除
化学刻蚀
Marangoni界面效应
亚表面缺陷
抛光
光学元件亚表面缺陷的全内反射显微检测
亚表面缺陷
全内反射
偏振
驻波
调焦
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 光学元件的亚表面缺陷研究
来源期刊 中国工程物理研究院科技年报 学科 工学
关键词 亚表面缺陷 光学元件 强激光技术 固体激光系统 高能量密度 激光损伤 激光器
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 502
页数 1页 分类号 TN24
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研究主题发展历程
节点文献
亚表面缺陷
光学元件
强激光技术
固体激光系统
高能量密度
激光损伤
激光器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国工程物理研究院科技年报
年刊
四川省绵阳市919信箱805分箱
出版文献量(篇)
2158
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