深亚微米全差分采样/保持电路设计

• 作者: 侯立刚 刘成 吴武臣 孟昊 张乃燃
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS深亚微米 全差分 下极板采样
• 年，卷（期）: 2006,（z1）
• 所属期刊栏目: 数据采集与信号处理
• 页码范围: 145-147
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 1462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2006.z1.057

摘要

本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度.设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V电源电压和50MHz采样频率工作条件下能够稳定工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴武臣	北京工业大学集成电路与系统实验室	54	459	12.0	18.0
2	侯立刚	北京工业大学集成电路与系统实验室	75	360	11.0	15.0
3	刘成	北京工业大学集成电路与系统实验室	2	11	2.0	2.0
4	孟昊	北京工业大学集成电路与系统实验室	3	15	2.0	3.0
5	张乃燃	北京工业大学集成电路与系统实验室	2	5	2.0	2.0