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利用方形四探针技术测量硅基片薄膜电阻的研究
方形四探针
硅基片
薄膜电阻
测试技术
同一种褐煤在两种煤气化工艺上的应用分析
低阶褐煤
壳牌干煤粉下行水激冷气化工艺
非熔渣-熔渣水煤浆气化工艺
原料制备
比煤耗
比氧耗
经济性
阵列式薄膜锰铜计的动态压阻响应研究
锰铜薄膜
压阻系数
阵列式
热处理
测量电阻的两种简易方法例析
测量电阻
等效替代法
公式计算法
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 同一基片上制作两种薄膜方阻的电阻研究
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 方阻 NiCr Cr-SiO并联电阻 TCR
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 18-22
页数 5页 分类号 TN451
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 魏文彦 2 1 1.0 1.0
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节点文献
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
方阻
NiCr
Cr-SiO并联电阻
TCR
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
总下载数(次)
46
总被引数(次)
0
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