一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善

• 作者: 吴洪江 王威 龙春平
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD Mura 抖动 耦合电容 画面品质
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 433-439
• 页数: 7页
• 分类号: TN83.93|TN321.5
• 字数: 3795字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2007.04.015

摘要

在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质.文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点.通过加强设备科学管理监控,减小耦合电容效应等一系列改善措施,产品质量得到了很大程度的提升,Vertical Block Mura从改善前的26.1%降到了1.3%,从而使Vertical Block Mura得以改善,很大程度地提高了产品的品质,并为今后相关问题的进一步研究和解决奠定了一定的理论基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴洪江		3	32	2.0	3.0
2	王威		4	36	2.0	4.0
3	龙春平		3	55	3.0	3.0