数字IC芯片的检测方与诊断技术

• 作者: 吕俊霞 王伟 赵建超
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 IC芯片 故障 检测 诊断
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 195-197
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 4067字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2007.11.059

摘要

在采用数字电路的各种设备中,数字IC的应用很广.那么,正确的检测数字IC芯片的性能,诊断数字集成电路的故障所在,就显得比较重要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟	河南工业职业技术学院计算机工程系	64	247	9.0	13.0
2	吕俊霞	河南工业职业技术学院电气工程系	170	506	10.0	14.0
3	赵建超	河南工业职业技术学院计算机工程系	22	35	2.0	5.0