高压工艺N阱电阻SPICE模型研究

• 作者: 何小东 李冰 李月影
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 高压N阱电阻 SPICE模型 结型栅场效应管JFET
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 39-44
• 页数: 6页
• 分类号: TN405
• 字数: 2564字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.11.010

摘要

文章对0.5μm/40V高压工艺中形成的N阱电阻的SPICE模型进行研究.因为高压电路的实际应用,N阱电阻的寄生效应不可忽略,所以精确反应其电学特性的SPICE模型也显得尤为重要.从N阱电阻的测量结果反映其IV曲线的非线性特性和结型栅场效应管JFET输出特性曲线具有相似性,并通过对高压阱电阻与JFET的结构分析认为可以采用JFET的电压电流关系来建立合理的数学模型反映高压阱电阻的这种非线性特性.因此在文中借用JFET的SPICE模型作为基础,用宏模型的方法为高压N阱电阻建立了一套精确的SPICE模型.此模型适用于各类仿真器,具有一定的通用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李月影	东南大学集成电路学院	1	0	0.0	0.0
2	李冰	东南大学集成电路学院	43	126	6.0	8.0
3	何小东		1	0	0.0	0.0