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摘要:
由沉积工艺产生的残余应力对RF MEMS开关的动态特性有重要影响.利用变量分离法推导出桥模式RF MEMS开关的频率方程组.给出二分法求解频率方程的流程图,并进行实例计算.计算结果表明,残余应力引起的频率偏移随着t/L的减小而增加;残余应力与频率偏移之间呈现出明显的非线性特性.
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文献信息
篇名 残余应力对RF MEMS开关谐振频率偏移的影响
来源期刊 噪声与振动控制 学科 工学
关键词 振动与波 RF MEMS开关 残余应力 频率方程 数值计算
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目 专题研究
研究方向 页码范围 32-33
页数 2页 分类号 TH73
字数 1094字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-1355.2007.06.011
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙玉国 4 15 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
振动与波
RF MEMS开关
残余应力
频率方程
数值计算
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
噪声与振动控制
双月刊
1006-1355
31-1346/TB
大16开
上海市华山路1954号上海交通大学
4-672
1981
chi
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36734
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