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摘要:
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富士通半导体推出带9 KB FRAM的新型高频RFID标签芯片
高频
RFID
标签芯片
铁电存储器
新产品
避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
球栅阵列封装
裂纹
芯片
有限单元分析
倒装片
断裂力学
设计工艺
倒装芯片拉脱试验分析与测试方法改进研究
倒装片
拉脱试验
测试方法
RFID标签芯片验证平台
RFID
覆盖率
受约束的
随机激励
自动检查
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 大连佳峰推出全自动RFID芯片倒装机
来源期刊 半导体行业 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围
页数 分类号 TN405
字数 语种 中文
DOI
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体行业
双月刊
无锡市梁溪路14号
出版文献量(篇)
1222
总下载数(次)
6
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