一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计

• 作者: 陈卫兵
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: BIST 折叠集 折叠控制器 双模式LFSR 准单输入跳变
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 1-2,8
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.12.001

摘要

针对扫描结构混合模式BIST的特点,文章提出了一种利用双模式LFSR和新型折叠控制器相结合的方法来对基于扫描结构的混合模式BIST电路进行低功耗优化设计,从而达到降低待测电路功耗的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈卫兵	阜阳师范学院物理系	36	101	7.0	8.0