互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究

• 作者: 刘智 翟林培 郝志航
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 成像系统 互补金属氧化物半导体图像传感器 亚像元细分 细分精度 填充率
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 118-124
• 页数: 7页
• 分类号: TP212.14
• 字数: 3756字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2007.01.022

摘要

通过图像处理方法,用软件的方式(亚像元细分)对目标进行定位是一个可有效提高测量精度的途径.主要对互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器亚像元细分精度的测试方法和测试结果进行研讨.利用压电陶瓷(PZT)精密快扫振镜(FSM)和基于互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的数字相机构建了实验系统,对该互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的亚像元细分精度进行了实验研究.结果表明,OV7620的质心定位精度达到0.17 pixel,即能够实现六细分,互补金属氧化物半导体图像传感器具有实现亚像元细分的能力,能够应用于以光斑质心检测为手段的测量系统中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟林培	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学研究部	49	812	15.0	27.0
2	郝志航	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学研究部	63	965	19.0	28.0
3	刘智	长春理工大学电信工程学院	25	612	11.0	24.0