氧化铝陶瓷绝缘子真空沿面闪络过程中的陷阱机制

• 作者: 丁立健 吕金壮 李成榕 梁英
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 热刺激电流 沿面闪络 真空 陷阱分布 表面电荷
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 电机电工
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TM85
• 字数: 3111字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2007.09.001

摘要

采用热刺激电流法(TSC)研究了不同烧结温度和掺有不同添加剂的氧化铝陶瓷的陷阱能级密度分布特性以及在负脉冲电压作用下的真空中表面带电和沿面闪络特性.研究发现,氧化铝陶瓷的陷阱分布与其真空中的表面带电和沿面闪络特性之间存在一定的内在联系,即材料中的陷阱密度越大,其表面电荷密度越高,且沿面闪络电压越低.上述结果表明,氧化铝陶瓷在真空沿面闪络过程中,除了电介质的二次电子发射作用外,载流子的入陷、脱陷机制也起着相当重要的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成榕	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	161	3340	34.0	49.0
2	丁立健	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	26	645	15.0	25.0
3	梁英	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	32	565	15.0	23.0
4	吕金壮	华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室	6	90	4.0	6.0