SRD反串测试线圈的转子位置特征值检测

• 作者: 冯雷 刘迪吉 刘闯 周强
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 开关磁阻电机 间接位置检测技术 测试线圈 调制技术 特征值
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 电机与电器
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 分类号: TM352
• 字数: 3005字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2008.03.005

摘要

转子位置信息是开关磁阻电机驱动系统工作的基础.本文是基于反串测试线圈的转子位置检测方案,结合了电感幅度调制技术,并利用三相开关磁阻电机电感曲线的几何特征,提出一种采用电感特征值比较的信号调理电路,通过简单的硬件比较电路即可获得离散的转子位置信号P、Q、R.方案的详细原理以及试验结果将在文中给出,试验结果验证了本检测方案具有自起动能力和高的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘闯	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	117	1251	20.0	32.0
2	周强	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	12	146	5.0	12.0
3	刘迪吉	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	26	845	18.0	26.0
4	冯雷	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	1	14	1.0	1.0