电子元器件图像外形特征的精确定位技术研究

• 作者: 张雪峰 李卓球 杜思思
• 来源期刊: 武汉理工大学学报(信息与管理工程版)
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 势函数 最小二乘法 Hough变换 直线段检测
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 359-362,367
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 2924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3963/j.issn.1007-144X.2008.03.007

摘要

电子元器件外形特征(长宽)的精确检测程度与元器件类型自动识别率密切相关.为解决这一特定问题,提出了一种改进的直线段精确检测算法.它主要分两步:首先进行边缘提取,即提出一种新颖的鲁棒性边缘去噪方法,去除阴影和管脚,为边缘直线段的精确提取奠定了基础;其次采用最小二乘法拟合得到直线参数变化范围,根据变化范围极大缩短Hough变换时间,快速求出直线段的精确角度,修正初始拟合参数及端点,最终得到精确的4条直线段.实验证明,该算法快速有效,易于实时处理,也适用于其他相关领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李卓球	武汉理工大学理学院	188	2528	26.0	41.0
2	张雪峰	武汉理工大学理学院	2	15	2.0	2.0
3	杜思思	武汉理工大学理学院	4	22	3.0	4.0