基于图象识别的高抛光透射面缺陷检测

• 作者: 潘炼 郭启军 钱新恩
• 来源期刊: 计算技术与自动化
• 关键词: 高抛光透射表面 图像分析 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 图形图像技术
• 页码范围: 95-97
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6199.2008.04.024

摘要

对高抛光透射面的缺陷进行分类,构建基于图像识别技术的高抛光透射面缺陷检测系统模型,探讨高抛光透射面缺陷图谱分析的技术要点.针对在实际检测过程中出现的图像过曝光和低曝光问题,提出高抛光投射面图像获取时的图像过曝光或低曝光问题的解决办法.在matlba环境下进行图像数字化处理及特征提取,实现高抛光透射面缺陷图谱的计算机自动分析.大量的模拟和真实图像实验结果表明,所给出的方法具有求解精度高、鲁棒性强的优点,表明这些方法是可行的,具有一定的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘炼	武汉科技大学信息科学与工程学院	47	142	7.0	10.0
2	郭启军	武汉科技大学信息科学与工程学院	2	26	1.0	2.0
3	钱新恩	期北汽车工业学院电气工程系	1	1	1.0	1.0