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CMOS数字集成电路I/O单元设计分析
CMOS数字集成电路I/O单元设计分析
作者:
代永平
刘艳艳
孙钟林
耿卫东
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
I/O库
双向输入/输出
芯核
焊点
CMOS
摘要:
按使用时焊点(PAD)排列方式的不同,CMC)S I/O库可分为两大类:直排式(inline)和交错式(staggered).以双向输入/输出单元为例详细介绍了一般CMOS I/O单元的主要组成部分及设计分析.其主要电路组成部分包括输出电平转换,输入/输出驱动以及静电保护,在工作频率要求较高时还应设计电源噪声抑制模块.电路设计配合一定工艺的spice模型进行仿真,根据仿真结果判断设计正确与否并进行优化.
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文献信息
篇名
CMOS数字集成电路I/O单元设计分析
来源期刊
南开大学学报(自然科学版)
学科
工学
关键词
I/O库
双向输入/输出
芯核
焊点
CMOS
年,卷(期)
2008,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
18-22
页数
5页
分类号
TN710.2
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
代永平
74
390
12.0
16.0
2
孙钟林
45
304
11.0
15.0
3
耿卫东
56
345
11.0
16.0
4
刘艳艳
25
52
4.0
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引证文献
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2008(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
I/O库
双向输入/输出
芯核
焊点
CMOS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
南开大学学报(自然科学版)
主办单位:
南开大学
出版周期:
双月刊
ISSN:
0465-7942
CN:
12-1105/N
开本:
大16开
出版地:
天津市南开区卫津路94号
邮发代号:
6-174
创刊时间:
1955
语种:
chi
出版文献量(篇)
2529
总下载数(次)
13
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