梨表面色泽的可见/近红外漫反射光谱无损检测研究

• 作者: 刘燕德 欧阳爱国 陈兴苗
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 化学
• 关键词: 可见/近红外漫反射光谱 无损检测 校正算法 表面色泽 梨
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 266-268
• 页数: 3页
• 分类号: O657.33|TN247
• 字数: 2394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2008.04.006

摘要

应用可见/近红外漫反射光谱对梨表面色泽进行无损检测研究.在350～1800nm光谱区间,结合梨的原始吸收光谱和标准化光谱,采用多元线性回归(MLR)、主成分回归(PCR)和偏最小二乘回归(PLSR)三种数学校正算法进行了定量对比分析.原始吸收光谱应用偏最小二乘回归建立的定标模型对24个未知样品的预测结果是:L*、a*、b*预测均方差分别为1.4251,0.4569和0.9497;相对预测偏差分别为3.7404%,3.3571%和2.5877%.实验结果表明:可见/近红外光谱技术对梨表面色泽的无损检测具有可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳爱国	江西农业大学工学院	23	261	8.0	15.0
3	刘燕德	江西农业大学工学院	66	1031	21.0	30.0
4	陈兴苗	江西农业大学工学院	14	299	9.0	14.0