重温Pb(Zrx Ti1-x)O3铁电薄膜极化疲劳问题

• 作者: 刘俊明 王阳
• 来源期刊: 物理
• 学科: 物理学
• 关键词: PZT铁电薄膜 极化疲劳 缺陷 长程迁移
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 前沿进展
• 页码范围: 310-316
• 页数: 7页
• 分类号: O4
• 字数: 4991字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2008.05.005

摘要

具有ABO3型钙钛矿结构的Pb(ZrxTi1-xO3(PZT)展示出良好的铁电极化性能,是使用最广的铁电材料.然而,在将它应用于铁电存储时,PZT薄膜遭遇到极化疲劳问题而被SrBi2Ta2O9(SBT)等铁电体所替代,这一问题至今未能得到妥善解决.文章首先通过变温极化疲劳实验充分理解PZT极化疲劳的基本过程,然后有针对性地进行材料设计,获得基本无极化疲劳的PZT铁电薄膜.