基于原子力显微技术的PZT微阵列图形铁电性能

• 作者: 何力 张卫华 徐国敏 谭红 赵高扬 邓小翠
• 来源期刊: 功能材料与器件学报
• 学科: 工学
• 关键词: 锆钛酸铅 铁电薄膜 电滞回线 微细图形
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 919-922
• 页数: 4页
• 分类号: TB34|TM936.3
• 字数: 1753字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-4252.2008.05.013

摘要

应用基于原子力显微镜与铁电分析仪联用的方法,在无顶电极的情况下,直接测试了PZT微阵列格点的电滞回线.结果表明,应用铁电分析仪与原子力显微镜联用的测试技术能够表征铁电电容的电滞回线,并且可以定性地评价薄膜微电容的铁电特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐国敏	西安理工大学材料科学与工程学院	36	129	6.0	8.0
3	谭红		17	117	6.0	10.0
4	张卫华	西安理工大学材料科学与工程学院	27	162	8.0	11.0
5	赵高扬	西安理工大学材料科学与工程学院	72	349	10.0	14.0
6	何力		91	627	11.0	16.0
7	邓小翠	西安理工大学材料科学与工程学院	4	6	2.0	2.0